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浅谈气相色谱法 在天然气定量分析中减少误差的方法浅谈气相色谱法在天然气定量分析中减少误差的方法无论是毛细管色谱还是填充柱色谱，只要涉及到定量计算就存在着一定的误差，怎样才能把误差减少到zui低限度以及正确评价定量误差呢？因此，讨论气相色谱法的定量分析中减少误差的方法是十分必要的。下面根据内标法定量，从取样的代表性、定量响应因子的准确性、注射器外壁的清洁、进样技术的影响、硅胶垫的使用周期、进样量的大小、标样的定期校正、如何正确评定误差这八个方面来谈谈实践体会关键词气相色谱法内标法减少误差方法气相色谱法有分离效能高、灵敏度高、...
2017 11-30
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气相色谱仪器保养气相色谱仪器保养1、仪器内部的吹扫、清洁气相色谱仪停机后，打开仪器的侧面和后面面板，用仪表空气或氮气对仪器内部灰尘进行吹扫，对积尘较多或不容易吹扫的地方用软毛刷配合处理。吹扫完成后，对仪器内部存在有机物污染的地方用水或有机溶剂进行擦洗，对水溶性有机物可以先用水进行擦拭，对不能*清洁的地方可以再用有机溶剂进行处理，对非水溶性或可能与水发生化学反应的有机物用不与之发生反应的有机溶剂进行清洁，如甲苯、丙酮、四氯化碳等。注意，在擦拭仪器过程中不能对仪器表面或其他部件造成腐蚀或二次污染...
2017 11-29
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棒状薄层色谱主要技术指标薄层色谱主要技术指标1、薄层棒SF-16A型所采用的薄层棒直径0.9mm，其中吸附剂涂层厚度0.05mm,涂层长度130mm吸附剂为硅胶/氧化铝。2、扫描速度SF-16A扫描速度有三个档位可选，自定义速度从50-380mm/分钟任设。每次分析可扫描1-10个样品。3、FID检测器氢气流速：0-185mL/min可自动控制；空气流速：0-2000mL/min可自动控制；化电压：DC265V；zui小检测量：10-7g。4、气源要求氢气：zui大输入压力0.4MPazui大流量3...
2017 11-13
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棒状薄层色谱实验原理薄层色谱实验原理1、原理：薄层色谱(ThinLayerChromatography)常用TLC表示，又称薄层层析，属于固－液吸附色谱。样品在薄层板上的吸附剂（固定相）和溶剂（移动相）之间进行分离。由于各种化合物的吸附能力各不相同，在展开剂上移时，它们进行不同程度的解吸，从而达到分离的目的。2、薄层色谱的用途：①化合物的定性检验。（通过与已知标准物对比的方法进行未知物的鉴定）在条件一致的情况，纯碎的化合物在薄层色谱中呈现一定的移动距离，称比移值（Rf值），所以利用薄层色谱法可以...
2017 11-1
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棒状薄层色谱分析仪操作方法(1)棒状薄层板制备除另有规定外,将1份固定相和3份水在研钵中向一方向研磨混合,去除表面的气泡后，倒入涂布器中,在玻板上平稳地移动涂布器进行涂布（厚度为0.2～0.3mm），取下涂好薄层的玻板，置水平台上于室温下晾干，后在110℃烘30分钟，即置有干燥剂的干燥箱中备用。使用前检查其均匀度（可通过透射光和反射光检视）。(2)点样除另有规定外，用点样器点样于薄层板上，一般为圆点，点样基线距底边2.0cm，样点直径及点间距离同纸色谱法,点间距离可视斑点扩散情况以不影响检出为宜。点样...
2017 10-20
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棒状薄层色谱简介和分析原理棒状薄层色谱简介1、可对油品、脂类等样品的组分进行检测2、使用氢火焰检测器进行检测3、固定相采用硅胶色谱棒4、流动相采用不同性的溶剂（与样品性有关）5、使用计算机软件对检测结果进行采集和处理分析原理的色谱棒以恒定的速度通过FID氢火焰，薄层上的有机物质从氢火焰中获得能量而离子化，由于受到FID电上的电场影响，这些离子产生电流，此电流强度正比于进入火焰区的每种有机物质数量，从而就可以实现定量检测。
2017 10-14
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气相色谱常见检测器气相色谱常见检测器1）热导检测器热导检测器（TCD）属于浓度型检测器，即检测器的响应值与组分在载气中的浓度成正比。它的基本原理是基于不同物质具有不同的热导系数，几乎对所有的物质都有响应，是目前应用zui广泛的通用型检测器。由于在检测过程中样品不被破坏，因此可用于制备和其他联用鉴定技术。2）氢火焰离子化检测器氢火焰离子化检测器（FID）利用有机物在氢火焰的作用下化学电离而形成离子流，借测定离子流强度进行检测。该检测器灵敏度高、线性范围宽、操作条件不苛刻、噪声小、死体积小，是有机...
2017 10-13
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气相色谱故障米兰体育官网赞助萨勒尼塔纳-GC9160气相色谱仪首先是气路部分故障，这方面的故障可以分为：气体输入不正常、气体品种不对或纯度不够、气路泄漏、气路堵塞、气路污染、气路部件故障、流量设置不正常、色谱柱问题、等等。这个是从气路方面进行排除，可以分析出来的几种常见情况。另外就是主机电路部分故障，这方面的故障又可以分为:启动或初始化不正常、温度控制部分故障、键盘或显示部分故障、开关门不正常、点火不正常、电流设置不正常、量程或衰减设置不正常、其他功能性故障、等等。这个是从电路部分来进行考察得出来的集中情况。...
2017 9-30
